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缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場 件號：519630 型號：KSC-230 件號：521048 型號：KSC-430 說明：標準I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸標準I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.004英寸
與KSC-230相似，于工件上的小區域，每片四個圓，可切割開，單獨使用 件號：519631 型號：KSC-4-230 說明：小型I試片，每片試片有4個基圓，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸
不同深度的I試片 用于定量要求更高的作業，缺陷呈三個不同深度的同心圓環 型號：KSCT-234 說明：不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%，試片厚度為0.002英寸，試片背面帶膠，可直接貼在工件上。
型號：KSC4-234 不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%試片厚度為0.004英寸
磁粉試棒 在兩個方向上有粗細不一的人工表面和次表面缺陷滿足和超過大部分工業和軍用對于人工試片的標準，包括MIL-STD-271
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